dev/jtag
*JTAG **資料 IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer 1997 TEXAS INSTRUMENTS※必読 入門書。よくあるJTAGデバイスの構造よりもこっちがわかりやすい。 XILINX XAPP067(日本語版も有り)※SVFの日本語解説 Interface 2005-02 P159 JTAG徹底活用研究(1) JTAGとは何か？※必読 入門 Interface 2005-03 P167 JTAG徹底活用研究(2) JTAG制御方法の実際※必読 実例有り Interface 2005-05 P166 JTAG徹底活用研究(3) JTAGによるデバイス・プログラミング Interface 2005-07 P152 JTAG徹底活用研究(4) JTAGによるフラッシュ・メモリへの書き込み Interface 2005-09 P172 JTAG徹底活用研究(5) JTAGによるCPUデバッグ機能の詳細 Interface 2005-10 P159 JTAG徹底活用研究(6) JTAG制御ソフトウェアMITOUJTAGの活用法 **JTAG概要 &img(boundary-scan.png); IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer 1997 TEXAS INSTRUMENTS &img(tap_interconnect.png); IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer 1997 TEXAS INSTRUMENTS &img(ir_reg.png); IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer 1997 TEXAS INSTRUMENTS &img(data_reg.png); IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer 1997 TEXAS INSTRUMENTS &img(state_path.png); IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer 1997 TEXAS INSTRUMENTS &img(tap_state.png); **端子 |TDI|I|データ入力 |TCK|I|クロック |TDO|O|データ出力 |TMS|I|TAPコントローラの状態遷移 **TAPコントローラの状態遷移 TMSをTCK立ち上がりで遷移 -Captureステート シフレジに値がロード。 バウンダリスキャンレジスタが選択されていれば各I/O端子の値。 命令レジスタが選択されていればIRステータス・ワード -Shiftステート TDI→シフレジ→TDO -Updateステート シフレジの値をIC内部回路にロード バウンダリスキャンレジスタが選択されていれば各I/O端子 命令レジスタが選択されていればコマンド発行 -Test-Logic-Reset どの状態からでもリセットをかけることによりこの状態へ遷移可能 **JTAGコマンド ***必須命令 |EXTEST|デバイス外部の物理的接続をテストする|停止(テストモード)|命令はAll0 |BYPASS|デバイス内部のスキャン・パスをバイパスする|通常動作|命令はAll1 |SAMPLE/PRELOAD|データの取り込みと指定パターンの設定|通常動作|デバイス依存 **オプション命令 |INTEST|デバイス内部のロジックをテストする|停止(テストモード) |IDCODE|デバイス識別用のIDCODEを取得する|通常動作
2026-03-22 11:49:13 32400
